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Alvium 1800 C-530 VSWIR C-Mount open
2,592 x 2,056 해상도의 5.3MP급 InGaAs 센서를 적용하여 정밀한 이미지 획득이 가능한 임베디드 Alvium SWIR 솔루션입니다.
최대 84fps 촬영을 지원하며, MIPI CSI-2 인터페이스를 통해 안정적인 데이터 전송과 효율적인 시스템 구성이 가능합니다.
400~1700nm 파장대역을 지원하여 임베디드 SoC·FPGA 연동 검사, 반도체 미세 결함 검사, 태양광 셀 검사, 대면적 소재 검사 등 다양한 머신비전 검사 환경에 적합한 성능을 제공합니다.

Alvium 1800 C-530 VSWIR C-Mount open | 2,592 x 2,056 해상도의 5.3MP급 InGaAs 센서를 적용하여 정밀한 이미지 획득이 가능한 임베디드 Alvium SWIR 솔루션입니다.
최대 84fps 촬영을 지원하며, MIPI CSI-2 인터페이스를 통해 안정적인 데이터 전송과 효율적인 시스템 구성이 가능합니다.
400~1700nm 파장대역을 지원하여 임베디드 SoC·FPGA 연동 검사, 반도체 미세 결함 검사, 태양광 셀 검사, 대면적 소재 검사 등 다양한 머신비전 검사 환경에 적합한 성능을 제공합니다. | 비투에스 제품 이미지

Alvium 1800 C-530 VSWIR C-Mount open | 2,592 x 2,056 해상도의 5.3MP급 InGaAs 센서를 적용하여 정밀한 이미지 획득이 가능한 임베디드 Alvium SWIR 솔루션입니다.
최대 84fps 촬영을 지원하며, MIPI CSI-2 인터페이스를 통해 안정적인 데이터 전송과 효율적인 시스템 구성이 가능합니다.
400~1700nm 파장대역을 지원하여 임베디드 SoC·FPGA 연동 검사, 반도체 미세 결함 검사, 태양광 셀 검사, 대면적 소재 검사 등 다양한 머신비전 검사 환경에 적합한 성능을 제공합니다. | 비투에스 제품 이미지

5.3MP 고해상도와 MIPI CSI-2를 지원하는 임베디드 Alvium SWIR 카메라

400~1700nm 광대역 스펙트럼 SWIR 이미징
가시광선부터 확장 SWIR까지 400nm~1700nm의 넓은 스펙트럼 범위를 지원합니다.
수분/이물질 검사, 반도체 웨이퍼 검사 등 소재의 흡수 특성을 활용한 다양한 검사에 적합합니다.

5.3MP 고해상도와 84fps, MIPI CSI-2 임베디드 인터페이스
5.3MP Sony IMX992 InGaAs 센서로 최대 84fps의 스캔 속도를 지원하며, MIPI CSI-2(최대 4레인) 인터페이스로 SoC·FPGA 보드에 직접 연결할 수 있습니다.
반도체 웨이퍼 미세 결함 검사, 태양광 셀 검사 등 고해상도 임베디드 검사 시스템에 적합합니다.

초소형 임베디드 설계에 최적화
베어보드 및 오픈 하우징 형태로 제공되어 공간이 극도로 제한된 임베디드 설계에도 쉽게 통합할 수 있습니다.
드론·로봇 탑재형 검사, 휴대용 분석 장비 등 초소형·경량화가 필요한 응용에 활용할 수 있습니다.

주요사양
SPECIFICATIONS

Series	Alvium 1800 C	Model	Alvium 1800 C-530 VSWIR C-Mount open
Partnumber	SWIR, Visible SWIR	Sensor	Sony IMX992
Resolution	2,592 x 2,056 (5.30 MP)	Sensor size	8.9 x 7.1 mm (11.4 mm, Type 1/1.4)
Frame Rate	84 fps	Pixel Size	3.45 µm x 3.45 µm
Interface	MIPI CSI-2	Sensor Type	InGaAs
Dynamic range		Mount	C-Mount
Maker	Allied Vision

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Alvium_1800C-530_VSWIR.pdf

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