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Alvium 1800 C-130 VSWIR C-Mount open
1,296 x 1,032 해상도의 1.3MP급 InGaAs 센서를 적용하여 정밀한 이미지 획득이 가능한 임베디드 Alvium SWIR 솔루션입니다.
최대 130fps 촬영을 지원하며, MIPI CSI-2 인터페이스를 통해 안정적인 데이터 전송과 효율적인 시스템 구성이 가능합니다.
400~1700nm 파장대역을 지원하여 임베디드 SoC·FPGA 연동 검사, 식품 품질 검사, 태양광 셀 검사, 반도체 웨이퍼 검사 등 다양한 머신비전 검사 환경에 적합한 성능을 제공합니다.

Alvium 1800 C-130 VSWIR C-Mount open | 1,296 x 1,032 해상도의 1.3MP급 InGaAs 센서를 적용하여 정밀한 이미지 획득이 가능한 임베디드 Alvium SWIR 솔루션입니다.
최대 130fps 촬영을 지원하며, MIPI CSI-2 인터페이스를 통해 안정적인 데이터 전송과 효율적인 시스템 구성이 가능합니다.
400~1700nm 파장대역을 지원하여 임베디드 SoC·FPGA 연동 검사, 식품 품질 검사, 태양광 셀 검사, 반도체 웨이퍼 검사 등 다양한 머신비전 검사 환경에 적합한 성능을 제공합니다. | 비투에스 제품 이미지

Alvium 1800 C-130 VSWIR C-Mount open | 1,296 x 1,032 해상도의 1.3MP급 InGaAs 센서를 적용하여 정밀한 이미지 획득이 가능한 임베디드 Alvium SWIR 솔루션입니다.
최대 130fps 촬영을 지원하며, MIPI CSI-2 인터페이스를 통해 안정적인 데이터 전송과 효율적인 시스템 구성이 가능합니다.
400~1700nm 파장대역을 지원하여 임베디드 SoC·FPGA 연동 검사, 식품 품질 검사, 태양광 셀 검사, 반도체 웨이퍼 검사 등 다양한 머신비전 검사 환경에 적합한 성능을 제공합니다. | 비투에스 제품 이미지

MIPI CSI-2로 임베디드 시스템에 직접 연결하는 Alvium SWIR 카메라

400~1700nm 광대역 스펙트럼 SWIR 이미징
가시광선부터 확장 SWIR까지 400nm~1700nm의 넓은 스펙트럼 범위를 지원합니다.
수분/이물질 검사, 반도체 웨이퍼 검사 등 소재의 흡수 특성을 활용한 다양한 검사에 적합합니다.

1.3MP 해상도와 130fps, MIPI CSI-2 임베디드 인터페이스
1.3MP Sony IMX990 InGaAs 센서로 최대 130fps의 스캔 속도를 지원하며, MIPI CSI-2(최대 4레인) 인터페이스로 SoC·FPGA 보드에 직접 연결할 수 있습니다.
NVIDIA Jetson 등 임베디드 플랫폼과 연동한 소형 검사 시스템 구축에 적합합니다.

초소형 임베디드 설계에 최적화
베어보드 및 오픈 하우징 형태로 제공되어 공간이 극도로 제한된 임베디드 설계에도 쉽게 통합할 수 있습니다.
드론·로봇 탑재형 검사, 휴대용 분석 장비 등 초소형·경량화가 필요한 응용에 활용할 수 있습니다.

주요사양
SPECIFICATIONS

Series	Alvium 1800 C	Model	Alvium 1800 C-130 VSWIR C-Mount open
Partnumber	SWIR, Visible SWIR	Sensor	Sony IMX990
Resolution	1,296 x 1,032 (1.30 MP)	Sensor size	6.4 x 5.1 mm (8.2 mm, Type 1/2)
Frame Rate	130 fps	Pixel Size	5.00 µm x 5.00 µm
Interface	MIPI CSI-2	Sensor Type	InGaAs
Dynamic range		Mount	C-Mount
Maker	Allied Vision

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Alvium_1800C-130_VSWIR.pdf

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