400~1700nm VSWIR 고속 이미징을 위한 산업용 카메라
SWIR과 Visible SWIR 영역을 포함하는 400~1700nm의 넓은 스펙트럼 범위를 지원합니다.
육안으로 확인하기 어려운 비가시광 영역의 특성을 영상으로 획득하여 소재 및 제품의 다양한 특성을 분석할 수 있습니다.
반도체, 태양광, 플라스틱 선별 등 SWIR 기반 검사 시스템에 적합합니다.
Sony IMX991 InGaAs CMOS 센서와 글로벌 셔터를 적용하여 빠르게 움직이는 검사 대상도 안정적으로 촬영할 수 있습니다.
656 × 520의 0.30MP 해상도와 5μm 픽셀 크기를 통해 VSWIR 영역의 세밀한 이미지를 제공합니다.
최대 42dB의 게인과 15μs~10s의 폭넓은 노출 범위를 지원하여 다양한 촬영 환경에 대응할 수 있습니다.
1000BASE-T GigE와 IEEE 802.3af PoE를 지원하여 데이터 전송과 전원 공급을 하나의 네트워크 환경으로 구성할 수 있습니다.
36 × 29 × 29mm의 컴팩트한 크기와 70g의 경량 설계로 장비 및 자동화 시스템에 유연하게 적용할 수 있습니다.
주요사양
SPECIFICATIONS
주요사양
SPECIFICATIONS
Series |
Alvium G1 |
Model |
Alvium G1-030 VSWIR |
|---|---|---|---|
Partnumber |
SWIR, Visible SWIR |
Sensor |
Sony IMX991 |
Resolution |
656 × 520 (0.30 MP) |
Sensor size |
3.3 × 2.6 mm (4.1 mm, Type 1/4) |
Frame Rate |
249 fps |
Pixel Size |
5.00 µm × 5.00 µm |
Interface |
IEEE 802.3 1000BASE-T, IEEE 802.3af (PoE) |
Sensor Type |
InGaAs |
Dynamic range |
Mount |
CS-Mount |
|
Maker |
Allied Vision |