VC-25MX2-M 150 I14-NIR

5120 × 5120 초고해상도 해상도와 150.2fps 고속 촬영을 지원하는 CMOS 기반 AREA 스캔 솔루션입니다.
고속 인터페이스를 통해 대용량 이미지 데이터를 안정적으로 전송하며 정밀 검사 환경에 최적화되어 있습니다.
2.5μm 픽셀 크기의 MONO 센서와 NIR 대응 설계로 반도체, 디스플레이 등 미세 결함 검출 및 고정밀 검사에 적합합니다.

10MP급 초고해상도와 150.2fps 고속 촬영을 지원하는 CMOS 기반 AREA 스캔 카메라입니다.
정밀 검사 환경에 적합한 MONO 센서와 NIR 대응 설계를 적용하였으며, CXP-12 고속 인터페이스를 통해 대용량 데이터를 빠르고 안정적으로 전송합니다.
2.5μm 픽셀 크기의 고해상도 센서를 기반으로 반도체, 디스플레이 및 정밀 부품 검사 분야에서 높은 검출 성능과 효율적인 검사 환경을 제공합니다.