VEO_HJ Apo 4.0/60 머신비전 APO 라인스캔 렌즈
고해상도 라인스캔 시스템을 위한 산업용 APO 렌즈
VEO_HJ Apo 4.0/60은
라인스캔 및 대형 포맷 센서 기반 머신비전 시스템을 위해 설계된 산업용 APO 렌즈입니다.
저왜곡(<0.5%)과 색수차 억제 설계로
반도체, 전자, 디스플레이 검사 공정에서 안정적인 영상 품질을 제공합니다.
적용 분야
- 반도체 외관 검사
- 디스플레이 및 필름 검사
- 전자 부품 라인스캔 검사
- 정밀 계측 머신비전 시스템
주요 특징
- φ60 Image Circle 대응 대형 포맷 렌즈
- APO 광학 설계로 색수차 최소화
- F4.0 기준 고해상도 센서 대응
- 저왜곡 설계로 정밀 계측에 적합

“자세한 사양은 데이터시트를 참고하세요.”
기술 및 견적문의 : b2s@b2s.kr
주요사양
SPECIFICATIONS
주요사양
SPECIFICATIONS
Model |
VEO_HJ Apo 4.0 / 60-Vieworks |
Focal length |
60mm |
|---|---|---|---|
Image circle |
φ60 |
F/# |
4.0 – 32 |
Distortion |
< 0.5% |
Magnification Range |
0x – 0.5x |
Maker |
Vieworks |
