비투에스(B2S)는 2025년 3월 12일부터 3일간 서울 코엑스에서 열린 ‘스마트공장·자동화산업전(AW 2025)’에 참가하여, 머신비전 기술을 활용한 다양한 품질 검사 솔루션을 선보였습니다.
이번 전시에서 비투에스는 대면적 검사 솔루션, UV 검사 시스템, CIS(Contact Image Sensor) 솔루션을 시연하며, 제조업에서 요구하는 정밀한 비전 검사 기술을 소개했습니다.
주요 전시 제품:
- 대면적 검사 솔루션: 비넥스(VIENEX) ‘700mm CIS’와 유레시스(Euresys) 프레임 그래버 ‘CXP 6 보드’ 조합으로, 고해상도 이미지 통합 기능을 제공하여 대형 검사 대상물의 품질 검사를 최적화
- UV 검사 시스템: 감도가 40% 향상된 BSI UV TDI(Time Delay Integration) 라인 스캔 카메라 적용으로 기존 FSI 대비 고성능 UV 영역 촬영 가능
- 비넥스 CIS 솔루션: WD(Working Distance) 50mm로 다양한 조명 활용이 가능하며, 반도체 웨이퍼, 이차전지 전극폭, PCB 패턴 검사 등 다양한 응용 분야에 최적화
비투에스 관계자는 머신비전 하드웨어 솔루션을 기반으로 고객의 검사 환경에 최적화된 맞춤형 솔루션을 제공하고 있으며, 앞으로도 혁신적인 기술을 지속 개발해 나갈 것"이라고 밝혔습니다.
앞으로도 비투에스는 머신비전 기술을 활용하여 품질 검사 및 자동화 솔루션을 더욱 발전시켜 나갈 계획입니다.
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2025.03.17.(월)
[헬로티]